| Typ mikroskopie | Rok, autoři |
|---|---|
| tunelovací | 1981 Binnig, Rohrer |
| optická blízkého pole | 1982 Pohl |
| kapacitní | 1984 Matey, Blanc |
| tepelná | 1985 Williams, Wickramasinghe |
| atomárních sil | 1986 Binnig, Rohrer |
| přitažlivých sil | 1987 Martin, Williams, Wickramasinghe |
| magnetických sil | 1987 Martin, Wickramasinghe |
| třecích sil | 1987 Mate, McClelland, Chiang |
| elektrostatických sil | 1987 Martin, Abraham, Wickramasinghe |
| neelastická tunelovací spektroskopie | 1987 Smith, Kirk, Quate |
| laserem řízený STM | 1987 Arnold, Krieger, Walther |
| emise balistických elektronů | 1988 Kaiser |
| inverzní fotoemisní | 1988 Coombs, Gimzewski, Reihl, Sass, Schlittler |
| akustická blízkého pole | 1989 Takata, Hasegawa, Hosaka, Hosoki, Komoda |
| šumová | 1989 Moller, Esslinger, Koslowski |
| spinová | 1989 Manassen, Hamers, Demuth, Castellano |
| iontová | 1989 Hansma, Drake, Marti, Gould, Prater |
| elektrochemická | 1989 Husser, Craston, Bard |
| absorpční | 1989 Weaver, Wickramasinghe |
| fotonová absorpční | 1989 Wickramasinghe, Weaver, Williams |
| chemického potenciálu | 1990 Williams, Wickramasinghe |
| fotonapěťová | 1990 Hamers, Markert |
Zdroj: J. A. Stroscio, W. J. Kaiser: Scanning tunneling microscopy, Academic press 1993