Vybavení laboratoře

Mikroskop NTEGRA Aura umožňuje provádět měření AFM (kontaktní a poklepový režim a další odvozené techniky, např. LFM), MFM, EFM, STM a provádět silovou a elektrochemickou litografii. Velikost skenované oblasti závisí na typu skenování:

• při skenování sondou lze měřit 100 µm vodorovně a vzorek může být libovolně velký;
• při skenování vzorkem lze měřit 14 µm nebo 100 µm vodorovně a vzorek musí být lehčí než 100 g;
• při kombinovaném skenování lze vzorky do 100 g měřit v okně až 200 µm.

Měření můžeme v současnosti provádět buď v okolní atmosféře, nebo v nízkém vakuu.

AFM mikroskop typu Explorer můžeme provozovat se standardní výbavou dvou skenerů, umožňujících suchá (kontaktní i bezkontaktní) měření v rozsazích

• 100 µm vodorovně a 10 µm svisle,
• 2 µm vodorovně a 0,8 µm svisle

a se dvěma skenery pro měření v kapalném prostředí s rozsahy

• 100 µm vodorovně a 8 µm svisle,
• 2 µm vodorovně a 0,8 µm svisle.

Ve všech případech se jedná o skenování sondou.

Mikroskop NanoEducator (NT-MDT) je výukový mikroskop určený pro praktika z nanotechnologií. Je schopen měřit v režimech bezkontaktní AFM a STM a provádět silovou a proudovou litografii. Výhodou tohoto mikroskopu je snadná obsluha a levnost provozu, ovšem nedosahuje tak vysokého rozlišení, jako předchozí mikroskopy.

Pro snadnější manipulaci se vzorky a vyhledávání vhodných míst je laboratoř vybavena i inverzním optickým mikroskopem Olympus IX-70 s adaptérem pro AFM mikroskop Explorer. Maximální zvětšení objektivu je 100×.

Přehled knih dostupných v laboratorní knihovně:

• Yao, N.; Wang, Z. L.: Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers 2005
• Bhushan, B.; Fuchs, H.; Hosaka, S.: Applied Scanning Probe Methods, Springer 2004
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods II. Scanning Probe Microscopy Techniques, Springer 2006
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods III. Characterization, Springer 2006
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods IV. Industrial Applications, Springer 2006
• Bhushan, B.; Fuchs, H.; Kawata, S.: Applied Scanning Probe Methods V. Scanning Probe Microscopy Techniques, Springer 2007
• Bhushan, B.; Kawata, S.: Applied Scanning Probe Methods VI. Characterization, Springer 2007
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods VII. Biomimetics and Industrial Applications, Springer 2007
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods VIII. Scanning Probe Microscopy Techniques, Springer 2008
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods IX. Characterization<, Springer 2008
• Bhushan, B.; Fuchs, H.: Applied Scanning Probe Methods X. Biomimetics and Industrial Applications, Springer 2008
• Noy, A.: Handbook of Molecular Force Spectroscopy, Springer 2008
• Bai, Ch.: Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer 1992
• Wilkening, G.; Koenders, L.: Nanoscale Calibration Standards and Methods, Wiley-VCH 2005
• Méndez-Vilas, A.; Díaz, J.: Modern Research and Educational Topics in Microscopy, Formatex 2007
• Kalinin, S.; Gruverman, A.: Scanning Probe Microscopy. Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale, Springer 2007
• Foster, A. S.; Hofer, W. A.: Scanning Probe Microscopy. Atomic Scale Engineering by Forces and Currents, Springer 2006
• Heath, J. P.: Dictionary of Microscopy, Wiley 2005
• Morris, V. J.; Kirby, A. R.; Gunning, A. P.: Atomic Force Microscopy for Biologists, Imperial College Press 2001
• Jena, B. P.; Hörber, J. K. H.: Force Microscopy. Applications in Biology and Medicine, Wiley 2006
• Samori, P.: Scanning Probe Microscopies beyond Imaging. Manipulation of Molecules and Nanostructures, Wiley-VCH 2006