Brožura Mikroskopie skenující sondou

Brožura

Pokud Vás problematika mikroskopie skenující sondou více zajímá, můžete si zakoupit naší brožuru. Tato je koncipována jako přehledová učebnice pro studenty nižších ročníků fyzikálních oborů a studenty dalších oborů (lékařských, biologických, chemických), kteří se mohou stát uživateli výsledků měření (aniž by s mikroskopem přímo pracovali) a potřebují získat podrobnější informace o této metodě.

Brožura může posloužit také jako úvodní učebnice pro studenty, kteří s mikroskopiemi skenující sondou přijdou do užšího kontaktu coby diplomanti či doktorandi; bude pro ně odrazovým můstkem ke studiu další, převážně anglicky psané, odborné literatury.

Vyšlo v dubnu 2003, rozsah 145 stran.

CD Mikroskopie skenující sondou

CD

K uvedené brožuře můžete zakoupit také stejnojmenné CD, které ji vhodným způsobem doplňuje. CD obsahuje dvě části:

  1. galerii, která obsahuje barevné verze obrázků z brožury.
  2. prezentaci o mikroskopii skenující sondou ve formátu PDF. Její text se částečně překrývá s výše uvedenou brožurou, částečně ji rozšiřuje.

Vzhledem k počtu kusů není CD lisováno, ale pouze vypáleno na profesionálním duplikačním zařízení a opatřeno potiskem.
Pošlete nám informace opřípadných chybách.

Obsah brožury

  1. Mikroskopie skenující sondou - úvod, historický přehled
  2. Skenovací tunelovací mikroskopie - princip, postup měření
  3. Skenovací tunelovací spektroskopie - princip, režimy
  4. Mikroskopie atomárních sil - princip, působící síly, režimy
  5. AFM spektroskopie - princip
  6. Detektory signálů v AFM - způsoby a principy detekce
  7. Raménka a hroty - základní typy, parametry, výroba
  8. Pohybové zařízení - hrubý a jemný posuv, piezokeramické skenery, chyby
  9. Elektronika a obecná konstrukce - řízení, zpětná vazba, tlumení vibrací
  10. Korekce vad zobrazení - softwarové a hardwarové korekce
  11. Pracovní prostředí - typy prostředí, srovnání s EM
  12. Zpracování obrazu - prokládání, odstranění pozadí, histogram
  13. Artefakty a problémy měření - konvoluce, kvalita hrotu, vliv vzorku, chyby zpracování
  14. Odvozené mikroskopické techniky - EFM, MFM, NFOM, LFM, PDM, SThM, BEEM
  15. Další SPM techniky - méně časté techniky (akustická, iontová, ...)
  16. Aplikace SPM - modifikace povrchů, nanočástice, biologické aplikace

Mikroskopie skenující sondou

Pro potřeby výuky je k dispozici volná verze textu Mikroskopie skenující sondou, vytvořená v rámci grantu Fondu rozvoje vysokých škol.