Mikroskopie atomárních sil patří do nové rodiny mikroskopií se skenující sondou (SPM). Příspěvek je přehledem naších aplikací mikroskopu AFM Explorer při studiu povrchu vodivých a nevodivých vzorků. Zajímavou aplikací AFM je analýza nanočástic oxidu železitého a studium jejich morfologických charakteristik v závislosti na podmínkách jejich přípravy.