| Nanočástice Fe2O3 na povrchu slídy, skenovací okno 1 μm. |
| Sůl vykrystalizovaná na povrchu mikroskopického sklíčka. Zde jako demonstrace, co všechno dokáže zabránit měření. Někde mezi solí jsou chromozomy. |
| Vrstva SiO2 napařená na skle. Zobrazena je rýha, sloužící ke stanovení tloušťky vrstvy (zde asi 180 nm). |
| AFM lze používat ke kontrole kvality vyrobených CD, jednotlivé prohlubně mají šířku ∼0,5 μm a hloubku asi 100 nm. Skenovací okno 5 μm, v levém rohu náhled okna 20 μm. |